Élettartam-mérési eredmények mikrokapcsolókra
Lifetime measurement results for micro switches
Keywords:
Weibull –analysis, accelerated life testing, micro switch, temperature, humidity, Weibull –analízis, gyorsított élettartam vizsgálat, mikrokapcsoló, hőmérséklet, páratartalomAbstract
The aim of this paper is to analyse the results of our research obtained in the field of accelerated life testing of structural elements micro switches. A characteristic of the test method is that we examine the lifetime of the element subjected to an increased extent, such as an increased frequency of use and a change in various effects. On the base of tests performed on micro switches, we want to develop a lifetime estimating model.
Kivonat
Cikkünk célja, hogy elemezzük a kutatásunk során eddig elért eredményeket, melyet szerkezeti elemek- mikrokapcsolók gyorsított élettartam vizsgálata tématerületen végeztünk. A vizsgálati módszer jellegzetessége, hogy valamely élettartam jellemzőt fokozott mértékben vizsgálunk úgymint megemelt igénybe vételi gyakoriság és különböző hatások megváltoztatása. A kapcsolókon teszteket végzünk, melyek alapján életartam becslő modell kifejlesztését szeretnénk elérni.
References
Balogh, A., Dukáti, F., Sallay, L.: Minőség-ellenőrzés és megbízhatóság, Műszaki Könyvkiadó, Bp.,1980, ISBN 0-262-04219-3
Meeker, W. Q., Escobar, L. A.: Statistical Methods for Reliability Data, Wiley-Interscience Publication – John Wiley& Sons, INC, Copyright,1998, ISBN 978-0-471-14328
Sipkás V., Vadászné Bognár G., Mikrokapcsolók Weibull-eloszlásán alapuló gyorsított élettartam vizsgálatok, Doktoranduszok Fóruma, Miskolci Egyetem, Gépészmérnöki és Informatikai kar Szekciókiadványa, 2017, pp. 105-109, ISBN 978-963-358-166-7
Sipkás V., Vadászné Bognár, G.: The Application of Accelerated Life Testing Method for Micro Switches, International Journal of Instrumentation and Measurement, http://www.iaras/journals/ijim,Vol. 3, 2018, pp. 1-5. ISSN 2534-884
Sipkás V., Vadászné Bognár G.: Kerti gépekben alkalmazott mikrokapcsolók élettartam adatainak vizsgálata, Multidiszciplináris Tudományok, Vol. 9, No.2, 2019, pp. 90-95, https://doi.org/10.35925/j.multi.2019.2.13
Sipkás V., Vadászné Bognár G.: Testing accelerated life data of micro switches, Design of Machines and Structures, Vol. 9, No.2, 2019, pp. 44-50, ISSN 1785-6892
Sipkás V., Vadászné Bognár G.: Mikrokapcsolók meghibásodási adatainak kiértékelése, Gép folyóirat, vol. 71., no.7-8, pp. 57-60, 2020, ISSN 0016-8572
Sipkás, V., Vadászné Bognár, G.: Failure Prediction Models For Accelerated Life Tests WSEAS TRANSACTIONS on CIRCUITS and SYSTEMS, Vol. 17, 2018, pp. 173- 179, E-ISSN 2224-266X
