Élettartam-mérési eredmények mikrokapcsolókra

Lifetime measurement results for micro switches

Authors

  • SIPKÁS Vivien
  • VADÁSZNÉ BOGNÁR Gabriella

Keywords:

Weibull –analysis, accelerated life testing, micro switch, temperature, humidity, Weibull –analízis, gyorsított élettartam vizsgálat, mikrokapcsoló, hőmérséklet, páratartalom

Abstract

The aim of this paper is to analyse the results of our research obtained in the field of accelerated life testing of structural elements micro switches. A characteristic of the test method is that we examine the lifetime of the element subjected to an increased extent, such as an increased frequency of use and a change in various effects. On the base of tests performed on micro switches, we want to develop a lifetime estimating model.

Kivonat

Cikkünk célja, hogy elemezzük a kutatásunk során eddig elért eredményeket, melyet szerkezeti elemek- mikrokapcsolók gyorsított élettartam vizsgálata tématerületen végeztünk. A vizsgálati módszer jellegzetessége, hogy valamely élettartam jellemzőt fokozott mértékben vizsgálunk úgymint megemelt igénybe vételi gyakoriság és különböző hatások megváltoztatása. A kapcsolókon teszteket végzünk, melyek alapján életartam becslő modell kifejlesztését szeretnénk elérni.

 

References

Balogh, A., Dukáti, F., Sallay, L.: Minőség-ellenőrzés és megbízhatóság, Műszaki Könyvkiadó, Bp.,1980, ISBN 0-262-04219-3

Meeker, W. Q., Escobar, L. A.: Statistical Methods for Reliability Data, Wiley-Interscience Publication – John Wiley& Sons, INC, Copyright,1998, ISBN 978-0-471-14328

Sipkás V., Vadászné Bognár G., Mikrokapcsolók Weibull-eloszlásán alapuló gyorsított élettartam vizsgálatok, Doktoranduszok Fóruma, Miskolci Egyetem, Gépészmérnöki és Informatikai kar Szekciókiadványa, 2017, pp. 105-109, ISBN 978-963-358-166-7

Sipkás V., Vadászné Bognár, G.: The Application of Accelerated Life Testing Method for Micro Switches, International Journal of Instrumentation and Measurement, http://www.iaras/journals/ijim,Vol. 3, 2018, pp. 1-5. ISSN 2534-884

Sipkás V., Vadászné Bognár G.: Kerti gépekben alkalmazott mikrokapcsolók élettartam adatainak vizsgálata, Multidiszciplináris Tudományok, Vol. 9, No.2, 2019, pp. 90-95, https://doi.org/10.35925/j.multi.2019.2.13

Sipkás V., Vadászné Bognár G.: Testing accelerated life data of micro switches, Design of Machines and Structures, Vol. 9, No.2, 2019, pp. 44-50, ISSN 1785-6892

Sipkás V., Vadászné Bognár G.: Mikrokapcsolók meghibásodási adatainak kiértékelése, Gép folyóirat, vol. 71., no.7-8, pp. 57-60, 2020, ISSN 0016-8572

Sipkás, V., Vadászné Bognár, G.: Failure Prediction Models For Accelerated Life Tests WSEAS TRANSACTIONS on CIRCUITS and SYSTEMS, Vol. 17, 2018, pp. 173- 179, E-ISSN 2224-266X

Downloads

Published

2021-04-20

How to Cite

[1]
Vivien, S. and Gabriella, V.B. 2021. Élettartam-mérési eredmények mikrokapcsolókra : Lifetime measurement results for micro switches. Nemzetközi Gépészeti Konferencia – OGÉT. 29, (Apr. 2021), 165–167.

Issue

Section

C. szekció – Géptervezés